Čia visada rasite buvusių ir būsimų pranešimų temas bei turinį
| Pavadinimas: Spektroskopinƫ elipsometrija
Pranešėjas: Dainius Perednis
Pranešimo data: 2006-03-16
Skaidrė parsisiuntimui: elipsometrija20060316.pdf
|
Trumpas pranešimo aprašymas:
PraneĆ°ime aptariama spetroskopinĆ« elipsometrija ir jos taikymai optiniĆø dangĆø srityje. Ćis didelio tikslumo neinvazinis matavimo metodas yra naudojamas optiniĆø konstantĆø ir sluoksniĆø storiĆø matavimui bei mikrostruktĆ»ros analizei. Bus pristatomi skaidrinanĆØiĆø optiniĆø dangĆø tyrimo rezultatai.
Grįžti į seminaro pranešimų sąrašą