Čia visada rasite buvusių ir būsimų pranešimų temas bei turinį

Pavadinimas: SpektroskopinĆ« elipsometrija Pranešėjas: Dainius Perednis Pranešimo data: 2006-03-16 Skaidrė parsisiuntimui: elipsometrija20060316.pdf

Trumpas pranešimo aprašymas:

PraneĆ°ime aptariama spetroskopinĆ« elipsometrija ir jos taikymai optiniĆø dangĆø srityje. Ć�is didelio tikslumo neinvazinis matavimo metodas yra naudojamas optiniĆø konstantĆø ir sluoksniĆø storiĆø matavimui bei mikrostruktĆ»ros analizei. Bus pristatomi skaidrinanĆØiĆø optiniĆø dangĆø tyrimo rezultatai.

Grįžti į seminaro pranešimų sąrašą